应郑州大学材料科学与工程学院、河南省资源与材料产业协同创新中心的邀请，PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司应用科学家鞠焕鑫博士将莅临材料科学与工程学院做学术报告，欢迎广大师生积极参加！

报告题目：光电子能谱（XPS/UPS）技术及应用

报告人：鞠焕鑫研究员

报告时间：2019年5月7日 （星期二）9:00-11:00

地点：郑州大学主校区河南省资源与材料产业协同创新中心一楼报告厅

材料科学与工程学院

2019年4月29日

报告人简介:

鞠焕鑫博士，PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司应用科学家。2009年-2014年于中国科学技术大学获得学士和博士学位。2012-2013年在美国华盛顿大学（西雅图）化学系联合培养。2016年6月-2018年10月，中国科学技术大学国家同步辐射实验室副研究员，负责中国科学技术大学国家同步辐射实验室催化与表面科学实验站的运行管理，主要从事软X射线谱学方法学研究以及能源器件界面电子性质研究。在学术研究方面与用户合作在J. Am. Chem. Soc., Angew. Chem. Int. Ed, Adv. Mater, Adv Funct Mater等期刊发表学术论文70余篇；主持和参与国家自然科学基金委青年科学基金、大科学装置联合基金培育项目和重点项目、国家重点研发计划等多个国家级科研项目。2018年11月，加入PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司，担任应用专家，参与PHI南京实验室的创建，并负责PHI南京实验室的运行管理。

报告摘要：

近年来随着科学技术的飞速发展，先进的表面分析技术已经成为材料、能源、催化、微电子以及半导体产业等领域中开展表面特性研究所必需的实验技术。其中XPS是利用X射线激发样品产生光电效应，通过探测样品表面出射的光电子来获得样品表面元素组成及化学态的一种表面分析方法。先进的扫描聚焦多功能XPS分析设备集成了多项表面分析技术（XPS -UPS-IPES-GCIB），可以提供包括芯能级、价带和导带的全面电子结构信息，并具备微区分析能力(<10 um)，同时结合团簇离子源实现了无损逐层解析的深度分析能力，为表面特性研究提供强有力的技术支持。

本报告将介绍光电子能谱技术原理和技术特点，讲解数据处理过程包括谱图定量分析、化学态解析以及谱图拟合等，并结合具体研究事例介绍表面分析技术在材料、能源领域的应用。欢迎感兴趣的老师和同学来听报告，并就光电子能谱技术问题开展深入的交流与探讨。