透射电子显微镜

 

 

 

 

●仪器名称

 

透射电子显微镜

 

 

●主机型号

 

JEM-2100

 

 

●仪器参数

 

六硼化镧透射电镜

 

电子枪：六硼化镧型

 

分辨率：点分辨率：≤0.23nm， 线分辨率：≤0.14nm

 

加速电压：最高加速电压200kV

 

放大倍数：50× —1,500,000×

 

物镜球差系数：≤1.0mm，色差系数：≤1.4mm，最小聚焦步长：≤1.5nm

 

束斑尺寸TEM模式：≥20nm，EDS/NBD/CBD模式：≤1.0nm

 

相机长度: 80~2000mm

 

样品移动：X: ≤2mm ； Y: ≤2mm；Z：≤0.4mm

 

最大倾斜角：≥+35°

 

X射线能谱分析固体角：≥0.13sr

 

取出角：≥25°

 

扫描透射附件

 

明场分辨率：≤1.0nm

 

暗场分辨率：≤1.0nm

 

HAADF像分辨率：≤1.0nm

 

可采集明场像、暗场像和HAADF像、进行能谱的点、线、面分析

 

能谱仪(EDS)：牛津公司X-Max65T

 

探测器：电制冷

 

探测器面积：65mm2

 

分辨率：≤133eV（Mn Ka线）

 

分辨元素范围：5B -U92

 

峰背比：≥18,000:1

 

数字化CCD相机：OSIS Tengra

 

像素尺寸：≥9 μm x 9 μm

 

视野范围：41 mm x 41 mm

 

分辨率：2048 x 2048 Pixel

 

耦合方式：2：1光纤耦合

 

 

●功能简介

 

透射电子显微镜（TEM）能够以电子束透过样品经过聚焦与放大产生物像，其分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数达几万～上百万倍，扫描透射附件则既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的功能。透射电子显微镜是唯一的一种能同时观察空间频率空间(倒易空间) 和真实空间的仪器，可用来揭示宏观现象与介观和微观(原子尺度) 结构及组织间的关系。因此透射电镜除了进行样品的形貌观察、原子像（高空间分辨透射电子显微像）外，通过衍射可获得所选定的照射区域样品的衍射图形（SAED），研究其晶体结构；由于电子轰击样品可产生X射线，可进行所照射区的元素和成分分析（EDS）；电子束经过样品，由于样品元素的不同，电子束经过不同的原子时，能量的损失不同，研究电子束照射区域的元素种类和成分分布（EELS），与EDS不同，该技术更适合于轻元素的探测，空间分辨率更高。

 

 

●共享状态

 

对外开放