物理学院“格物致理”系列学术报告会

报告题目：散射技术在光电器件中应用

报告专家：郭任君研究员

报告时间：1月6日(周六) 10:30

报告地点：南校区23号楼三楼会议室

报告摘要：

散射技术提供了对光电器件中使用的活性材料和功能层形貌及结构的独特洞察。采用小角散射和广角散射技术（SAXS和WAXS）可以实现对无定形分子在温度和压力下的变化的检测。采用掠入射广角X射线衍射（GIWAXS），可以探测材料的结晶结构和高分子材料的排列。GIWAXS对结晶部分具有敏感性，可以确定晶体结构以及相对于电极的结晶区域的取向。采用斜入射小角X射线衍射（GISAXS），可以探测薄膜内部的纳米级结构。由于GISAXS对从几纳米到数百纳米的长度尺度具有敏感性，因此可以检测光电器件的所有相关形貌的分布。在介绍这些技术后，回顾了它们在光电器件中的实例应用。以光伏活性层材料的原位生长为例，揭示了材料络合态如何影响材料的形核结晶过程，并建立了材料和器件的构效关系。最后，以光伏器件退化机制研究为例，阐明了不同气氛下使光伏活性层材料的结构和形貌发生不同变化的机理，并构建了结构和形貌变化与器件性能衰退的关联。

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